手机电磁兼容测试:ESD静电放电问题盘点

静电放电（ESD）的破坏作用具有隐蔽性、潜在性、随机性和复杂性的特点。来自Intel的资料表明，在引起电子器件故障的诸多因素中，ESD是最大的隐患。所以，模拟静电放电的测试在世界范围内得到广泛关注。

手机静电放电失效的具体表现

1. 手机通话中断。
2. 手机部分功能失效，但试验结束后或重新启动手机，可以恢复正常。具体表现为：屏幕显示异常，如白屏、条纹、乱码、模糊等；通话异常，如啸叫声或声音时断时续；按键（触摸屏）功能异常；软件误报警，例如并未进行充电器插拔，却频繁提示“充电已连接、充电器已移除"。
3. 手机自动关机或重新启动。可能发生在通话状态或待机状态。
4. 手机失效或损坏。如摄像头等部分器件损坏；手机与充电器相连进行测试时，充电器也可能出现失效、损坏甚至爆炸等问题。

手机静电放电失效的具体分析

手机静电放电失效的改进建议

尽量选择静电敏感度等级高的器件。器件与静电源隔离，减少回路面积(面积越大，所包含的场流量越大，其感应电流越大)。具体的措施可能包括：走线越短越好；电源与地越接近越好；存在多组电源和地时，以格子方式连接；太长的信号线或电源线宜与地线交错布置；信号线越靠近地线越好；同一特性器件越近越好；尽量在PCB上使用完整的地平面，PCB接地面积越大越好，不要有大的缺口，PCB的接地线要低阻抗；电源、地布局在板中间比在四周好；在电源和地之间放置高频旁路电容；保护静电敏感的元器件。